В практикуме рассмотрены методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения и методу дериватографического анализа. Практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов» и по специальностям 150701 «Физико-химия процессов и материалов», 210602 «Наноматериалы», а также для студентов других направлений, преподавателей, аспирантов и слушателей курсов повышения квалификации.
В нашей электронной библиотеке вы можете скачать книгу
«Сверхтвердые материалы. Рентгенографические, электронномикроскопические и дериватографические методы исследования сверхтвердых материалов» автора Николая Полушина
в формате epub, fb2, rtf, mobi, pdf себе на телефон, андроид, айфон, айпад, а так же читать онлайн и без регистрации. Ниже вы можете оставить отзыв о прочитанной или интересующей вас книге.
